產(chǎn)品時(shí)間：2024-06-23
快速溫變測(cè)試箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。
一、快速溫變測(cè)試箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介
快速溫變?cè)囼?yàn)箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。
溫度快速變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。
二、快速溫變測(cè)試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》；
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Bb》；
IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分試驗(yàn).試驗(yàn)N溫度的改變
三、技術(shù)參數(shù)
工作室容積： | 7m3（可定制） |
內(nèi)箱尺寸： | 1700*1700*2500mm |
外箱尺寸： | 2400*3400*3050mm |
溫度范圍： | -70～+150℃ |
溫度均勻度： | ≤±2℃（空載，布置15點(diǎn)計(jì)量） |
發(fā)熱負(fù)載： | 500kg鋁錠，13kW發(fā)熱量（滿載） |
溫度偏差： | ≤±2℃（空載） 滿載時(shí)溫度偏差±≤5℃（布置15點(diǎn)計(jì)量，計(jì)量時(shí)以大升降溫速率設(shè)定，當(dāng)出風(fēng)口溫度到達(dá)設(shè)定溫度值時(shí)開(kāi)始計(jì)時(shí)，5分鐘內(nèi)溫度偏差≤5℃） |
溫度波動(dòng)度： | ≤±0.5℃（空載）； 滿載時(shí)溫度波動(dòng)度：≤±1.0℃，出風(fēng)口計(jì)量。 |
升溫速度： | 平均3度/分鐘， |
滿載升降溫速率： | 70℃～-10℃≥5℃/min（全程平均）；出風(fēng)口測(cè)量； |
空載升降溫速率： | 70℃～-10℃≥10℃/min（全程平均）；出風(fēng)口測(cè)量； |
溫度過(guò)沖： | ≤5℃（布置15點(diǎn)計(jì)量）； |
試驗(yàn)箱風(fēng)量： | ≥17500CFM |
外壁材料： | 不銹鋼板SUS #304或鍍鋅鋼板雙面噴漆，厚度不小于1.0mm； |
內(nèi)壁材料: | 不銹鋼板SUS #304，厚度不小于1.0mm； |
保溫材料: | 箱體保溫材料為硬質(zhì)聚氨酯泡沫或更優(yōu)材質(zhì)保溫材料，厚度≥100mm； |
試驗(yàn)箱底板承重能力: | ≥1000kg/㎡（均勻負(fù)載） |
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